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X射线荧光光谱法测定长石的化学成分
太阳城手机版官网(www.mine168.com) 发布时间:2012-1-14 11:41:48
采用粉末压片制样、X射线荧光光谱仪测定长石的化学组成,可获高准确度和高精密度的分析结果,测定值与化学法及推荐值相符,重复10次测定主、次量组分的RSD<0.6%,痕量组分RSD<3%.方法简便快捷,分析时间仅为传统湿法化学分析的1/8,满足工艺过程中批次配料需要.

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